紅外氣體分析儀是利用紅外線進行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

　　紅外氣體分析儀按照光源發(fā)出的光是否經(jīng)過分光分為分光型和非分光型紅外氣體分析儀。固定分光型(CDIR)采用分光系統(tǒng)，使通過氣室的輻射光譜與待測組分的特征吸收光譜吻合，其優(yōu)點是選擇性好，缺點是光束能量會減小，靈敏度不高。非分光型(NDIR)是指光源發(fā)出的連續(xù)光譜全部投射到待測樣品上，待測組分吸收其各個特征波長譜帶的紅外光，吸收具有積分性質，其優(yōu)點是靈敏度高，高信噪比和良好的穩(wěn)定性，缺點是待測樣品中的其他組分的重疊吸收峰會對測量產生干擾。

　　紅外氣體分析儀按照光學系統(tǒng)不同分為雙光路和單光路紅外氣體分析儀。雙光路是從兩個相同的光源或從分配的一個光源發(fā)出兩路彼此平行的紅外光束，分別通過幾何光路相同的分析氣室、參比氣室后進入檢測器。單光路是從光源發(fā)出單束紅外光，只通過一個幾何光路。但對于檢測器，接收到的是兩個不同波長的紅外光束，只是它們到達檢測器的時間不同。即利用調制盤的旋轉，將光源發(fā)出的光調制成不同波長的紅外光束，輪流通過分析氣室送往檢測器，實現(xiàn)時間上的雙光路。

　　紅外氣體分析儀按照檢測器類型的不同分為薄膜電容檢測器、微流量檢測器、半導體檢測器、熱釋電檢測器四種。而根據(jù)結構和工作原理的差別，又可以分成兩類，前兩種屬于氣動檢測器，后兩種屬于固體檢測器。氣動檢測器靠氣動壓力差工作，薄膜電容檢測器中的薄膜振動靠這種壓力差驅動，微流量檢測器中的流量波動也是由這種壓力差引起。不分光紅外(NDIR)源自氣動檢測器，只對待測氣體特征吸收波長的光譜有靈敏度，不需要分光就能得到很好的選擇性。半導體檢測器和熱釋電檢測器的檢測元件均為固體器件，固體檢測器直接對紅外輻射能量有響應，對紅外輻射光譜無選擇性，這種紅外分析屬于固定分光型(CDIR)。從優(yōu)點上看，氣動檢測器的檢出限和靈敏度很好，而固體檢測器的結構簡單，調整容易。